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概述: 平面近场天线测量系统是利用天线的近场区幅相分布和远场区幅相分布成数学傅里叶变换关系的原理,通过高精度三维采样模块(含平面近场扫描架和高性能微波探头)和射频控
备注:l 产品的性能特点与技术指标可根据需求进行定制。